يصادف اليوم ذكرى ميلاد عالم النفس الفرنسي ألفريد بينيه عام 1857، مخترع أول اختبار ذكاء، هدفه الرئيسي كان تحديد الطلاب الذين يحتاجون إلى مساعدة خاصة في مناهجهم الدراسية.
فكرة ابتكار اختبار الذكاء
عام 1904 واجهت فرنسا في مدارسها مشكلة الأطفال المتخلفين دراسيا، فدعي وزير التربية والتعليم لجنة يرأسها (بينيه) لدراسة المشكلة، فأخرج بالاشتراك مع زميل له يدعي (سيمون) أول اختبار للذكاء من نوعه يتكون من ثلاثين سؤالا متدرجة في الصعوبة للأطفال ما بين 3 سنوات و11 سنة للتمييز بين العاديين والشواذ في الذكاء، وقد تم تجريب هذا الاختبار علي مجموعتين من الأطفال إحداهما عادية والثانية شاذة.
وفي مؤتمر عقد في روما في أبريل عام 1905، قرأ دكتور هنري بيونيهHenri Beaunis تقريرا أعد بواسطة (الفريد بينيه- سيمون) حيث أعلنا أن تطوير المقياس الموضوعي قادرا علي تشخيص درجات مختلفة من حالات التخلف العقلي، وقد تبع ذلك بحوالي شهرين الإعلان عن اختبار بينيه- سيمون للذكاء وذلك في عيادة نفسية في باريس. وهذا المقياس (الاختبار) يغطي وظائف متعددة وهي الحكم، والفهم، والاستدلال وهي وظائف اعتبرها (بينيه) مكونات أساسية للذكاء، وقد تم تقنين المقياس علي عينة بلغ حجمها 50 طفلا.
وقد أعد (بينيه) مقياسه ليقيس جميع الملكات القابلة للقياس والمرتبطة بمستويات النمو العقلي، وهو يتكون من عدد كبير من الأسئلة التي لم ترتب بالنسبة للعمليات العقلية التي يقيسها، وإنما رتبت بالنسبة لصعوبة الفقرة، حيث أن السؤال الأول يكون أسهلها والأخير أصعبها، وفكرة الاختبار مبنية علي قياس العمليات العقلية العليا، والتي كانت في نظر (بينيه) أنها عمليات تركيبية ابتكارية ذاتية النقد، كما أن الذكاء عملية معقدة التكوين متعددة الجوانب والمظاهر.
قام بعدها لويس تيرمان من جامعة ستانفورد بتعديلات إضافية حيث أدخل اقتراح ويليام شتيرن بأن مستوى ذكاء الفرد يقاس كنسبة ذكاء.
اختبار تيرمان، الذي اسماه مقياس ستانفورد-بينيه للذكاء، شكل الاساس لاختبارات الذكاء الحديثة والتي مازالت مستخدمة حتى الان تحت مسمى نسبة الذكاء.